IEC新增滤波器材料透过率标准,三安方案推动全球产业链工艺革新
厦门2025年3月12日 /美通社/ -- 国际电工委员会(IEC)正式发布了《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》(IEC 62276:2025),首次明确了压电材料的光学性能标准。三安滤波器晶体团队以在材料端的研发经验,在关于透过率(晶片黑化程度)的相关技术要求和相应测量方法中做出重要贡献。
随着5G通信和物联网终端向高频化、微型化加速发展,声表面波(SAW)滤波器作为射频前端的核心组件,承担着信号选频的关键功能。据Yole Développement预测,到2026年,全球声表面波滤波器市场规模将达55亿美元。智能终端对滤波器数量和性能的需求激增,推动材料技术向更高一致性、更优光学性能演进。
2025年3月7日,国际电工委员会(IEC)正式发布《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》(IEC 62276:2025),首次将压电材料的光学性能(透过率/黑化程度)纳入国际标准。该标准由中国企业主导修订,标志着我国在高端压电材料领域实现从技术跟随到规则制定的跨越。
泉州三安集成(原晶安光电团队)依托三安光电二十余年的化合物半导体研发制造经验,持续投入LN/LT压电材料制备工艺的研发,逐步掌握成熟的晶片黑化工艺。团队自2016年深度参与该项目的标准论证,在透过率的相关技术要求和相应测量方法与项目其他成员协作,讨论及验证试验,提出了多项技术性修改内容,纳入了新标准中主要的修订内容之一。
三安拥有国内少有的滤波器垂直整合产业链,构建射频前端芯片整合解决方案制造平台,持续加强工艺和材料的研发投入,积极投身行业标准的制定和提升,促进行业协同发展和产品质量标准提升,为全球头部射频设计公司提供可靠的芯片制造服务。
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